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高低温分析探针台

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高低温分析探针台

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非真空高低温探针台：温度范围 -80°~400°


PS：探针台属于非标产品，均可根据客户需求进行定制。
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高低温分析探针台
规格LJ-6LJ-8LJ-12
外形860mm长*850mm宽*700mm高880mm长*860mm宽*750mm高1400mm长*920mm宽*920mm高
重量150公斤约170公斤约250公斤
电力需求220VC,50~60Hz
样品台尺寸6英寸，可360度旋转8英寸，可360度旋转12英寸，可360度旋转
行程X-Y行程6*6英寸X-Y行程8*8英寸X-Y行程12英寸*12英寸
移动精度1um
切换样品功能样品台快速拉出
样品固定方式真空吸附
电学运用电学独立悬空，可作为背电极使用
针座平台规格O型平台，最多可放置8个针座O型平台，最多可放置10个针座O型平台，最多可放置12个针座
行程&调节方式平台可以快速升降，行程 6mm并带自动锁定功能;可以上下微调，行程25mm，升降精度1um
温控特性温度范围﹣100~200℃﹣80~200℃﹣60~200℃
温控精度温度分辨率 ： 0.01°C 
加热电源 LVDC 低压直流
最低控温速率    ±0.1°C  /小时  
制冷方式液氮制冷
光学特性 显微镜行程X-Y轴行程2英寸*2英寸，Z轴：50.8mm
切换镜头方式显微镜气动升降    注1
放大倍数16~100X/20~4000X
镜头规格目镜：10X；物镜：5X,10X,20X,50X,100X（选配）
CCD像素50W（模拟）/200W（数字）/500W（数字）
点针规格X-Y-Z行程12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
机械精度10微米/2微米/0.7微米/0.1微米
漏电精度10pA/100fA（配置屏蔽箱时）
接口形式香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴/SMA/K接口
应用方向高低温环境下，LD/LED/PD测试，PCB/封装器件测试，射频测试等。
可选附件探针卡夹具防震台低电流/电容测试
显微镜暗场/DIC/Normarski 检测光强/波长测试接口部件镀金卡盘光纤夹具耦合测试选件
同轴叁轴卡盘封装器件夹具
射频测试附件光强/光谱/波长测试选件PCB/封装夹具测试选件
高压/大电流测试套装有源探头特殊定制
屏蔽箱转接头

特点
非真空环境下的低温测试，可达-100℃大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计
兼容高倍率金相显微镜，可微调移动0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试
高等院校/研究所/公司实验室使用LD/LED/PD的光强/波长测试
最大可用于12英寸以内样品测试材料/器件的IV/CV特性测试
同轴丝杠传动结构，线性移动器件的高频特性(支持最高至300GHz频率)


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0757-66860078