多功能半导体参数测试一体机FS-Pro
多功能半导体参数测试一体机FS-Pro
业界第一个基于机器学习算法驱动的半导体参数测试系统
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产品介绍
一体化 采用人工智能算法驱动，业界首个集成IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)于单台仪器中，无需换线和重新探针即可完成全部低频参数化表征。 | 超快速 FS-Pro系列较传统半导体参数测试系统，其测试速度高达10倍，业界首创AI测试加速卡，体验强大速度提升，同时保持测试精度。 | 模块化架构 PXI模块化架构，可轻松扩展支持生产测试（如 WAT）。 |
操作便捷 内置测量控制软件LabExpress-Adv™，拥有直观的用户图形界面，仅需点击几下鼠标就可以完成强大的器件特性分析功能。 | 宽量程 高达200V，3A（脉冲，标准1A），0.1fA的灵敏度。 | 建模仿真 业界唯一提供可选内置器件建模与仿真软件。 |
上一个：
Keithley 源测量单元
下一个：
4200A-SCS半导体测试系统
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