1/f 测试系统

产品中心 > 半导体测试仪 > 1/f 测试系统

1/f 测试系统

业界最快,灵敏度最高,集成建模和电路分析的低频噪声方案
分享到:

产品介绍

比其它方案速度提升10倍                

每个bias点只需要5秒,保证同样的精度和带宽,满足统计测试要求。                

业界最高噪声灵敏度                

不仅满足模拟设计要求的nA级电流噪声测试要求,还能满足光器件暗流的噪声测试。                


               

全新“自适应”系统噪声消除算法实现低噪声底和即插即用 

适用于任何器件实验室,无需繁琐复杂的安装调试,10分钟即可完成安装,为客户提供试用。                


               

多级放大器智能选择保证高系统Roll-off频率                

即使测试小电流,NC300也能保证>100KHz的Roll-off频率。                

支持自动机台,多die,多晶圆测试                

支持全部主流自动机台,也支持封装器件测试。                

支持存储器RTN测量,MEMS器件底噪,Q,和谐振频率测量以及多种模拟电路低频噪声分析,如背景噪声,电源噪声等

灵活拓展功能,适用于存储器,MEMS,和模拟电路噪声分析,不同于其它方案仅仅支持针对器件1/f噪声建模,同时集成噪声统计建模,电路分析,帮助用户完成建模的同时分析噪声对电路的影响。